涂层测厚仪的原理和测量方法

　　涂层测厚仪的原理：

　　对资料外表保护、装饰构成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关地区和国际标准中称为覆层（coating）。

　　覆层厚度丈量已成为加工工业、外表工程质量检测的重要一环，是产品到达优等质量标准的必备手法。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

　　涂层测厚仪的丈量办法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差丈量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性丈量法及涡流丈量法等。这些办法中前五种是有损检测，丈量手法繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线法是无接触无损丈量，但装置复杂昂贵，丈量范围较小。因有放射源，运用者有必要遵守射线防护标准。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法合适镀层和底材原子序号大于3的镀层丈量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时选用。

　　跟着技能的日益进步，特别是近年来引进微机技能后，选用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。丈量的分辨率已达0.1微米，精度可到达1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简洁且价廉，是工业和科研运用*广泛的测厚仪器。

　　选用无损办法既不损坏覆层也不损坏基材，检测速度快，能使很多的检测工作经济地进行。

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